Bienvenue sur nos sites web !
section02_bg(1)
tête(1)

LCP-27 Mesure de l'intensité de diffraction

Description courte :

Le système expérimental se compose principalement de plusieurs éléments : une source lumineuse, une plaque de diffraction, un enregistreur d’intensité, un ordinateur et son logiciel d’exploitation. Grâce à une interface informatique, les résultats expérimentaux peuvent être utilisés comme module complémentaire pour une plateforme optique, ou de manière autonome. Le système est équipé d’un capteur photoélectrique pour mesurer l’intensité lumineuse et d’un capteur de déplacement de haute précision. La règle à réseau permet de mesurer le déplacement et de déterminer avec précision la distribution de l’intensité de diffraction. L’ordinateur contrôle l’acquisition et le traitement des données, et les résultats de mesure peuvent être comparés à la formule théorique.


Détails du produit

Étiquettes de produit

Expériences

1. Test de diffraction par une fente unique, des fentes multiples, des milieux poreux et des rectangles multiples : la loi de variation de l’intensité de diffraction en fonction des conditions expérimentales

2. Un ordinateur est utilisé pour enregistrer l'intensité relative et la distribution d'intensité d'une fente unique, et la largeur de la diffraction d'une fente unique est utilisée pour calculer la largeur de la fente unique.

3. Observer la distribution d'intensité de la diffraction de plusieurs fentes, trous rectangulaires et trous circulaires.

4. Observer la diffraction de Fraunhofer d'une fente unique

5. Déterminer la distribution de l'intensité lumineuse

 

Caractéristiques

Article

Caractéristiques

Laser He-Ne >1,5 mW à 632,8 nm
Fente unique 0 à 2 mm (réglable) avec une précision de 0,01 mm
Plage de mesure d'image Largeur de fente : 0,03 mm, espacement des fentes : 0,06 mm
Réseau de référence projectif Largeur de fente : 0,03 mm, espacement des fentes : 0,06 mm
Système CCD Largeur de fente : 0,03 mm, espacement des fentes : 0,06 mm
Objectif macro cellule photoélectrique au silicium
Tension d'alimentation CA 200 mm
Précision de mesure ± 0,01 mm

  • Précédent:
  • Suivant:

  • Écrivez votre message ici et envoyez-le-nous