Ellipsomètre expérimental LCP-25

Description courte :

Le polarimètre elliptique manuel utilise la méthode d'extinction pour mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction du film, et permet de régler manuellement la déviation et l'angle de déviation lors du test. L'ellipsométrie est largement employée pour la mesure des films minces diélectriques déposés sur un substrat solide. Cette méthode de mesure d'épaisseur offre une précision optimale, même pour les films les plus fins.

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Détails du produit

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Caractéristiques

Description	Caractéristiques
Plage de mesure d'épaisseur	1 nm ~ 300 nm
Plage d'angles d'incidence	30º ~ 90º , Erreur ≤ 0,1º
Angle d'intersection du polariseur et de l'analyseur	0° ~ 180°
Échelle angulaire du disque	2º par échelle
Lecture minimale du vernier	0,05º
Hauteur du centre optique	152 mm
Diamètre de la zone de travail	Φ 50 mm
Dimensions générales	730 x 230 x 290 mm
Poids	Environ 20 kg

Liste des pièces

Description	Qté
Unité ellipsométrique	1
Laser He-Ne	1
Amplificateur photoélectrique	1
Cellule photoélectrique	1
Film de silice sur substrat de silicium	1
CD du logiciel d'analyse	1
Manuel d'instructions	1