Ellipsomètre expérimental LCP-25

Brève description:

Le polarimètre elliptique manuel utilise la méthode d'extinction pour mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction du film, et régule manuellement la déviation et l'angle de déviation du processus de test.L'ellipsométrie est largement utilisée dans la mesure de couches minces diélectriques sur substrat solide.Dans le procédé de mesure de l'épaisseur du film, il peut être mesuré avec la précision la plus fine et la plus élevée.

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Détail du produit

Étiquettes de produit

Caractéristiques

La description	Caractéristiques
Plage de mesure d'épaisseur	1 nm ~ 300 nm
Plage d'angle d'incidence	30º ~ 90º, Erreur ≤ 0.1º
Angle d'intersection du polariseur et de l'analyseur	0º ~ 180º
Échelle angulaire du disque	2º par échelle
Min.Lecture de Vernier	0.05º
Hauteur du centre optique	152 millimètres
Diamètre de l'étape de travail	Φ 50 mm
Dimensions hors tout	730x230x290mm
Lester	Environ 20 kg

Liste des pièces

La description	Qté
Unité d'ellipsomètre	1
Laser He-Ne	1
Amplificateur photoélectrique	1
Photocellule	1
Film de silice sur substrat de silicium	1
CD du logiciel d'analyse	1
Manuel d'instructions	1