Système expérimental intégré LADP-7 des effets Faraday et Zeeman
Expériences
1. Observer l'effet Zeeman et comprendre le moment magnétique atomique et la quantification spatiale.
2. Observer le dédoublement et la polarisation d'une raie spectrale atomique du mercure à 546,1 nm
3. Calculer le rapport charge/masse de l'électron à partir de l'amplitude du dédoublement Zeeman
4. Observer l'effet Zeeman sur d'autres raies spectrales du mercure (par exemple 577 nm, 436 nm et 404 nm) avec des filtres optionnels.
5. Apprendre à régler un étalon Fabry-Perot et à utiliser un dispositif CCD en spectroscopie
6. Mesurer l'intensité du champ magnétique à l'aide d'un teslamètre et déterminer la distribution du champ magnétique.
7. Observer l'effet Faraday et mesurer la constante de Verdet par la méthode d'extinction de la lumière.
Caractéristiques
| Article | Caractéristiques |
| Électro-aimant | B : ~1400 mT ; espacement des pôles : 8 mm ; diamètre des pôles : 30 mm ; ouverture axiale : 3 mm |
| Alimentation électrique | 5 A/30 V (max) |
| Laser à diode | > 2,5 mW à 650 nm ; polarisation linéaire |
| Étalon | diamètre : 40 mm ; L (air) = 2 mm ; bande passante : > 100 nm ; R = 95 % ; planéité : < λ/30 |
| Teslamètre | Plage de mesure : 0-1999 mT ; résolution : 1 mT |
| Lampe à mercure crayon | Diamètre de l'émetteur : 6,5 mm ; puissance : 3 W |
| Filtre optique interférentiel | CWL : 546,1 nm ; demi-bande passante : 8 nm ; ouverture : 20 mm |
| microscope à lecture directe | Grossissement : 20X ; portée : 8 mm ; résolution : 0,01 mm |
| lentilles | Collimation : diamètre 34 mm ; imagerie : diamètre 30 mm, f=157 mm |
Liste des pièces
| Description | Qté |
| Unité principale | 1 |
| Laser à diode avec alimentation | 1 ensemble |
| Échantillon de matériau magnéto-optique | 1 |
| Lampe à mercure crayon | 1 |
| bras de réglage de lampe à mercure | 1 |
| Sonde milli-teslamétrique | 1 |
| Rail mécanique | 1 |
| Porte-glissière | 6 |
| Alimentation électrique de l'électroaimant | 1 |
| Électro-aimant | 1 |
| Lentille de condensation avec support | 1 |
| Filtre interférentiel à 546 nm | 1 |
| Étalon FP | 1 |
| Polariseur avec disque gradué | 1 |
| Plaque quart d'onde avec support | 1 |
| Objectif d'imagerie avec support | 1 |
| Microscope à lecture directe | 1 |
| Détecteur de photodétecteur | 1 |
| Cordon d'alimentation | 3 |
| CCD, interface USB et logiciel | 1 ensemble (option 1) |
| Filtres interférentiels montés à 577 et 435 nm | 1 ensemble (option 2) |









